Testador de Taxa de Erro de Bit Tektronix BSA260C
Tektronix BSA260C Bit Error Rate Tester
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O Testador de Taxa de Erro de Bit Tektronix BSA260C oferece geração de padrões de alta velocidade e análise de erros até 28,6 Gb/s com análise integrada de diagrama de olho.
Detalhes do produto
| Modelo | BSA260C |
| Fabricante | Tektronix |
| Categoria | Testes de Taxa de Erro de Bit |
| Disponibilidade | Por encomenda |
Descrição
Visão Geral
O Testador de Taxa de Erro de Bit Tektronix BSA260C BERTScope fornece medições abrangentes de integridade de sinal para sistemas de dados seriais. Ele combina análise de diagrama de olho com geração de padrões BER para permitir isolamento rápido de sequências de bit e padrão problemáticas, depois analisa ainda mais com técnicas avançadas de análise de erro.
Principais Características
- Geração de padrão e análise de erro com medições de BER de alta velocidade até 28,6 Gb/s
- Tempo de subida de entrada rápido e detector de erro de largura de banda de entrada alta para análise precisa de integridade de sinal
- Análise integrada de diagrama de olho com correlação de BER
- Error Location Analysis™ patenteado para compreensão rápida das limitações de desempenho de BER
- Decomposição abrangente de jitter incluindo análise de jitter de padrão longo (PRBS-31)
- Geração de estresse calibrado integrado com jitter senoidal até 100 MHz
- Suite de teste de camada física com testes de máscara, pico de jitter, contorno de BER e análise de fator Q
- Suporte para modelos padrão de tolerância de jitter e bibliotecas definidas pelo usuário
Aplicações
- Testes de receptor PCIe 2.0 & 3.0
- Testes de olho sob estresse elétrico de 10/40/100 Gb Ethernet
- Testes de canal Fibre (FC8, FC16, FC32) e IEEE 802.3ba
- Análise de integridade de sinal SFP+/SFI, OIF/CEI e InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
- Testes de protocolo de dados seriais SATA, USB 3.1 e outros
Especificações
| Maximum BER Speed | 28.6 Gb/s |
| Pattern Generation | Yes |
| Error Analysis Type | Bit error rate with error location analysis |
| Eye Diagram Analysis | Integrated with BER correlation |
| Jitter Analysis | Comprehensive decomposition with PRBS-31 support |
| Sinusoidal Jitter Range | 0 to 100 MHz |
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Testador de Taxa de Erro de Bit Tektronix BSA260C
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