Sistema de Teste de Diodo Laser Pulsado Keithley 2520

Visão Geral

O Sistema de Teste de Diodo Laser Pulsado Keithley 2520 é um sistema integrado e sincronizado projetado para testar diodos laser no início do processo de fabricação, antes da aplicação de embalagem ou controle de temperatura ativa. Combina todas as capacidades de fonte e medição necessárias para testes pulsados e contínuos LIV (luz-corrente-tensão) em um único instrumento compacto de meia rack. A sincronização rigorosa entre fonte e medição garante alta precisão mesmo com larguras de pulso tão curtas quanto 500ns, tornando-o ideal para testes de produção em processo de diodos laser no nível de chip ou barra.

Características Principais

• Solução integrada para testes pulsados e contínuos LIV de diodos laser
• Capacidade de pulso até 5A; capacidade CC até 1A
• Tempo de ativação de pulso programável de 500ns a 5ms com até 4% de ciclo de trabalho
• Precisão de medição de 14 bits em três canais de medição (VF, fotodíodo frontal, fotodíodo traseiro)
• Canais de medição síncronos baseados em DSP para medições altamente precisas de intensidade de luz e tensão
• Até 1000 pontos de varredura armazenados em memória de buffer para eliminar tráfego GPIB durante o teste
• Algoritmo de medição aumenta a relação sinal-ruído de medição de pulso
• Operações de agrupamento e manuseio digital I/O
• A varredura pode ser programada para parar no limite de potência óptica
• Interfaces IEEE-488 e RS-232

Aplicações

• Testes de produção de diodos laser no nível de chip ou barra
• Garantia de qualidade de fabricação inicial antes da embalagem
• Caracterização de potência óptica e elétrica de diodos laser
• Testes pulsados e contínuos de fontes ópticas semicondutoras

Acessórios Inclusos

• Manual do usuário
• Guia de referência rápida
• Cabo Triax (Qtd. 2)
• Cabos coaxiais BNC 10W (Qtd. 4)