Keysight B1530A Unidade Geradora de Forma de Onda/Medição Rápida
Keysight B1530A Waveform Generator/Fast Measurement Unit
Keysight B1530A integra geração de forma de onda e medição de IV de alta velocidade com tecnologia SMU dinâmica, eliminando efeitos de linha de carga para medições de pulso e transitório precisas.
Detalhes do produto
| Modelo | B1530A |
| Fabricante | Keysight |
| Categoria | Analisadores LCR e de Impedância |
| Disponibilidade | Por encomenda |
Descrição
Visão Geral
A Keysight B1530A Unidade Geradora de Forma de Onda/Medição Rápida (WGFMU) é um módulo especializado para o Analisador de Parâmetros de Semicondutor B1500A projetado para medições de IV ultra-rápidas, IV pulsadas e IV transitória. Ela integra geração de forma de onda arbitrária com capacidades de medição simultânea de alta velocidade, usando a tecnologia SMU dinâmica proprietária da Keysight para eliminar efeitos de linha de carga que afligem combinações tradicionais de gerador de pulso e osciloscópio.
A B1530A atende a necessidade crítica de caracterização precisa de dispositivos semicondutores de próxima geração, particularmente para medições de confiabilidade dependentes do tempo que se tornaram cada vez mais importantes no desenvolvimento de dispositivos avançados.
Principais Recursos
- Geração de forma de onda arbitrária com resolução programável de 10 ns (saída de 10V pico-a-pico)
- Medição de tensão/corrente de alta velocidade em 200 MSa/s (taxa de amostragem de 5 ns)
- Saída de dois canais para medições simultâneas em múltiplos pontos
- Capacidade de amplitude dinâmica para medição precisa em amplas faixas de corrente
- Medições de pulso e transitório livres de efeitos de linha de carga usando tecnologia SMU dinâmica
- Resolução de medição suportando sensibilidade em nível de femtoampère
Aplicações
- Caracterização ultra-rápida de NBTI (Instabilidade de Temperatura de Polarização Negativa) e PBTI (Instabilidade de Temperatura de Polarização Positiva)
- Medição de ruído de Sinal Telegráfico Aleatório (RTN)
- Testes de confiabilidade de semicondutor avançado e caracterização de dispositivo
- Medição de parâmetro de dispositivo dependente do tempo
Especificações
| Arbitrary Waveform Resolution | 10 ns |
| Output Voltage | 10 V peak-to-peak |
| Measurement Speed | 200 MSa/s |
| Sampling Rate | 5 ns |
| Channels | 2 (dual) |
| Measurement Sensitivity | Femtoamp level |
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Keysight B1530A Unidade Geradora de Forma de Onda/Medição Rápida