Tektronix SUP6-WBG-DPT Teste de Pulso Duplo de Banda Larga SiC GaN
Tektronix SUP6-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test
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SUP6-WBG-DPT é uma aplicação de teste de pulso duplo de banda larga SiC/GaN para Tektronix 6 Series MSO, otimizada para caracterização de semicondutor de potência.
Detalhes do produto
| Modelo | SUP6-WBG-DPT |
| Fabricante | Tektronix |
| Categoria | Acessórios de Osciloscópio |
| Disponibilidade | Por encomenda |
Descrição
Visão Geral
A aplicação Tektronix SUP6-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test estende o osciloscópio Tektronix 6 Series MSO com ferramentas especializadas para análise de dispositivos de semicondutor de banda larga. Este módulo de software implementa metodologias padrão de teste de pulso duplo, habilitando engenheiros a caracterizar desempenho de chaveamento, perdas e dinâmica de semicondutores de potência Silicon Carbide e Gallium Nitride.
Recursos Principais
- Estrutura de teste de pulso duplo para dispositivos de banda larga
- Medição e análise automatizada de perda de chaveamento
- Caracterização de acionamento de porta e desempenho de chaveamento
- Suporte integrado de análise térmica
- Extração de parâmetros de dispositivo SiC e GaN
Aplicações
- Caracterização de dispositivo de semicondutor de banda larga
- Desenvolvimento e otimização de sistema de conversão de energia
- Análise de perda de chaveamento e melhoria de eficiência
- Teste de confiabilidade e qualificação de eletrônica de potência
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