Tektronix DSA8300 Osciloscópio Analisador de Amostragem Digital
Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope
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O Tektronix DSA8300 é um osciloscópio de amostragem digital de alta velocidade para testes de comunicações ópticas e elétricas de 155 Mb/s até 400G PAM4 com jitter intrínseco sub-100 femtossegundos.
Detalhes do produto
| Modelo | DSA8300 |
| Fabricante | Tektronix |
| Categoria | Osciloscópios |
| Disponibilidade | Por encomenda |
Descrição
Visão Geral
O Tektronix DSA8300 é uma plataforma abrangente de testes de camada PHY de alta velocidade para comunicações ópticas e elétricas. Com jitter intrínseco inferior a 100 femtossegundos e suporte para taxas de dados de 155 Mb/s até 400G PAM4, oferece caracterização de sinal de precisão para testes de conformidade exigidos por padrões em comunicações de dados modernas.
Principais Características
- Jitter intrínseco: menos de 100 femtossegundos para precisão de medição excepcional
- Módulos ópticos suportando taxas de dados de 155 Mb/s até 400G PAM4
- Receptores de referência óptica (ORR) para testes de conformidade exigidos por padrões
- Amostras elétricas com larguras de banda selecionáveis (280 µV em 20 GHz, 450 µV em 60 GHz típico)
- TDR integrado com tempo de subida de passo de 10 ps típico
- Análise abrangente de jitter, ruído e BER de sinais PAM4 e PAM2 NRZ
- Automação de transmissor 100G-SR4 e TDEC (Fechamento de Olho de Dispersão do Transmissor)
- Testes de máscara automatizados com mais de 80 máscaras de padrão da indústria
- Suporte para padrões novos e emergentes através de importação de máscara personalizada
- Taxa de aquisição de amostra alta: até 200 kS/s por canal
- Interfaces IEEE-488, Ethernet e processador local
Aplicações
- Testes de comunicações ópticas e verificação de conformidade
- Caracterização de link óptico de curto alcance e longa distância
- Análise e validação de sinal PAM4 400G
- Medições de reflectometria no domínio do tempo (TDR) e parâmetros S
- Testes de validação de fabricação e conformidade
- Validação e desenvolvimento de padrões emergentes
Especificações
| Intrinsic Jitter | Less than 100 femtoseconds |
| Optical Data Rate Range | 155 Mb/s to 400G PAM4 |
| Electrical Sampler Noise @ 20 GHz | 280 µV typical |
| Electrical Sampler Noise @ 60 GHz | 450 µV typical |
| TDR Step Rise Time | 10 ps typical |
| Sample Acquisition Rate | Up to 200 kS/s per channel |
| Standard Masks | Over 80 industry-standard masks |
| Measurement Functions | Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters |
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