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Gerador de Sinais Anritsu MG3692B

Anritsu MG3692B Signal Generator

Anritsu · Modelo: MG3692B Por encomenda
Gerador de Sinais Anritsu MG3692B
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Gerador de sinais de banda larga Anritsu MG3692B com cobertura de 0,1 Hz a 70 GHz, potência de saída de +23 dBm a 20 GHz e ruído de fase de -94 dBc/Hz para testes de RF/microondas.

Modelo MG3692B
Fabricante Anritsu
Categoria Geradores de Sinal RF e Micro-ondas
Disponibilidade Por encomenda

Visão Geral

O Anritsu MG3692B é um gerador de sinais de banda larga cobrindo 0,1 Hz a 70 GHz com cobertura extensível a 325 GHz e além usando multiplicadores externos. Combinando alta potência de saída com excelente pureza espectral e comutação rápida de frequência, o MG3692B serve como uma fonte de sinal ideal para aplicações de testes de RF e microondas. O instrumento oferece a maior potência de saída e melhor pureza espectral de sua classe, eliminando a necessidade de amplificação externa na maioria das aplicações.

Principais Características

  • Ampla cobertura de frequência de 0,1 Hz a 70 GHz com opção de extensão em onda milimétrica via multiplicadores externos
  • Potência de saída garantida de +23 dBm a 20 GHz com ruído de fase típico de -94 dBc/Hz a deslocamento de 1 kHz
  • Comutação rápida de frequência em 5 ms por ponto com varredura analógica opcional para medições ainda mais rápidas
  • Suite completa de modulação: AM, FM, PM e modulação por pulso com opções simultâneas
  • Alta potência de saída elimina necessidade de amplificação externa
  • Geração de sinal de pulso quádruplo e capacidades de varredura de pulso para simulação de radar
  • Compatibilidade total com versões anteriores com MG3690A e séries anteriores 68C/69B

Aplicações

  • Oscilador local de alta potência para testes de conversão de frequência para cima e para baixo
  • Simulação de sinal de radar pulsado com capacidades de alvo móvel e múltiplos alvos
  • Testes de ADC/DAC com fonte de relógio de alta potência
  • Testes de componentes incluindo amplificadores, misturadores e dispositivos não-lineares
  • Sistemas de ATE requerendo redução de tempo de teste através de comutação rápida de frequência
Form Factor Benchtop
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