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Analisador de Dispositivo Semicondutor Keysight B1500A

Keysight B1500A Semiconductor Device Analyzer

Keysight · Modelo: B1500A Por encomenda
Analisador de Dispositivo Semicondutor Keysight B1500A
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O Analisador de Dispositivo Semicondutor Keysight B1500A fornece medições abrangentes de corrente-tensão (IV), capacitância-tensão (CV) e medições pulsadas para caracterização completa de dispositivos.

Modelo B1500A
Fabricante Keysight
Categoria Equipamento de Teste RF e Micro-ondas
Disponibilidade Por encomenda

Visão Geral

O Keysight B1500A é um Analisador de Dispositivo Semicondutor abrangente projetado para caracterização elétrica completa, desde pesquisa básica até testes avançados de produção. Sua arquitetura modular suporta até dez módulos de medição, permitindo configuração para necessidades específicas e capacidades de upgrade conforme os requisitos de medição evoluem.

Capacidades de Medição

  • Medições de corrente-tensão (IV): modos de ponto, varredura, amostragem e pulso com faixa de corrente de 0,1 fA a 1 A e faixa de tensão de 0,5 µV a 200 V
  • Medições de capacitância AC de 1 kHz a 5 MHz com capacidades de Capacitância-Tensão Quase-Estática (QS-CV)
  • Medições IV pulsadas com intervalo de amostragem mínimo de 5 ns (taxa de amostragem de 200 MSa/s)
  • Forçamento de pulso de alta tensão até 40 V para caracterização de memória não-volátil

Hardware e Interface

  • Tela sensível ao toque de 15 polegadas com plataforma Windows 7 integrada
  • Interfaces GPIB, USB, LAN para integração de sistema
  • Porta de saída de vídeo VGA
  • Design modular com dez slots disponíveis para módulos de medição

Software (Grupo EasyEXPERT+)

O ambiente de caracterização integrado funciona na plataforma integrada do gabinete ou em PCs externos. Múltiplos modos de operação—testes de aplicação, testes clássicos, testes traçador, testes rápidos e visualização de osciloscópio—fornecem configurações de medição flexíveis. Análise automatizada, visualização gráfica e recursos de gerenciamento de dados facilitam avaliação eficiente de dispositivos e relatórios. Os resultados são exportados para Excel e formatos de imagem para análise.

Aplicações

  • Caracterização e avaliação de dispositivos semicondutores
  • Teste de componentes eletrônicos ativos e passivos
  • Caracterização e análise de materiais
  • Avaliação de dispositivos de memória não-volátil
  • Teste de dispositivos em nível de wafer com integração de sonda
High Frequency (range) 1MHz <= 10MHz
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