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Analisador de Espectro Óptico Yokogawa AQ6374

Yokogawa AQ6374 Optical Spectrum Analyzer

Yokogawa · Modelo: AQ6374 Por encomenda
Analisador de Espectro Óptico Yokogawa AQ6374
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Analisador de espectro óptico Yokogawa AQ6374 abrange 350–1750 nm com precisão de ±0,05 nm, faixa dinâmica de 60 dB e capacidade de medição rápida em 0,5 segundos.

Modelo AQ6374
Fabricante Yokogawa
Categoria Analisadores de Espectro
Disponibilidade Por encomenda

Visão Geral

O Analisador de Espectro Óptico Yokogawa AQ6374 fornece análise espectral abrangente em uma ampla faixa de comprimento de onda de 350 a 1750 nm. Projetado para aplicações de telecomunicações e industriais, este instrumento oferece alta precisão de comprimento de onda, capacidades rápidas de medição e funções extensa de análise otimizadas para produtividade e rentabilidade na avaliação de dispositivo óptico.

Características Principais

  • Faixa de comprimento de onda: 350 a 1750 nm
  • Precisão de comprimento de onda: ±0,05 nm
  • Resolução de comprimento de onda: 0,05 a 10 nm (8 configurações)
  • Faixa dinâmica: 60 dB (pico ±1,0 nm)
  • Faixa de nível: +20 a -80 dBm
  • Medição rápida: 0,5 segundos para intervalo de 100 nm
  • Resolução de amostragem alta: 100.001 amostras de comprimento de onda por varredura
  • Exibição de sete traços simultâneos com cálculo de múltiplos traços e Max/Min Hold
  • Zoom de traço via mouse e funcionalidade de arrastar
  • Quatro portas USB para dispositivos externos
  • Operação de painel frontal intuitiva com suporte a mouse e teclado
  • Visualização de arquivo em miniatura e arquivamento de traço tudo de uma vez em formato CSV

Aplicações

  • Testes e caracterização de componentes ópticos de telecomunicações
  • Pesquisa e desenvolvimento de dispositivos ópticos
  • Controle de qualidade de manufatura e avaliação de dispositivo
  • Medição e análise óptica industrial
Wavelength Range 350 to 1750 nm
Wavelength Accuracy ±0.05 nm
Wavelength Resolution 0.05 to 10 nm
Dynamic Range 60 dB (peak ±1.0 nm)
Level Range +20 to -80 dBm
Measurement Speed 0.5 seconds (100 nm span)
Sampling Resolution 100,001 samples per sweep
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