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Plataforma de Múltiplas Aplicações Viavi MAP200

Viavi MAP200 Multiple Application Platform

Viavi · Modelo: MAP200 Por encomenda
Plataforma de Múltiplas Aplicações Viavi MAP200
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Viavi MAP200 é uma plataforma de teste e medição óptica para desenvolvimento e fabricação de redes de transmissão óptica, disponível em três configurações de gabinete.

Modelo MAP200
Fabricante Viavi
Categoria Testadores de Telecomunicações
Disponibilidade Por encomenda

Visão Geral

A Plataforma de Múltiplas Aplicações Viavi MAP200 é uma plataforma de teste e medição óptica otimizada para desenvolvimento e fabricação econômicos de elementos de rede de transmissão óptica. Disponível em três configurações de gabinete (benchtop de 3 slots, rack 19 polegadas de 8 slots frontal e rack 19 polegadas de 8 slots traseiro), a MAP200 foi projetada para ambientes de laboratório e fabricação, suportando aplicações de teste desde testes de perda de inserção até testes de penalidade de dispersão.

A plataforma apresenta módulos permutáveis a quente, conformidade GPIB e Ethernet LXI, módulo de display com tela sensível ao toque opcional e módulos de controlador e fonte de alimentação substituíveis em campo. Todos os gabinetes têm 3 RU de altura e incluem hardware para uso em benchtop com pés de borracha para estabilidade e isolamento de vibração.

Principais Características

  • Três configurações de gabinete (benchtop de 3 slots, frontal de 8 slots, traseiro de 8 slots)
  • Interfaces remotas Ethernet em conformidade com GPIB e LXI (10/100/1000Base-T)
  • Módulo de display com tela sensível ao toque de 10,4 polegadas opcional com teclado integrado e roda de rolagem
  • Porta DVI para conectividade de monitor externo
  • Módulos permutáveis a quente para configuração de teste flexível
  • Módulo de controlador e fonte de alimentação substituível em campo
  • Compatível com a família atual de módulos MAP
  • Suporte de compartilhamento multiusuário com drivers de automação em conformidade com IVI

Aplicações

  • Teste de transceptor e transponder
  • Teste de componente passivo e ativo, laser e amplificador
  • Teste de sistema e subsistema 10G e 40G
Mainframe MAP-230MAP-280MAP-280R
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