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Hioki IM3570 Analisador de Impedância

Hioki IM3570 Impedance Analyzer

Hioki · Modelo: IM3570 Por encomenda
Hioki IM3570 Analisador de Impedância
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Hioki IM3570 Analisador de Impedância combina medições LCR, DCR e varredura com faixa de frequência de 4 Hz a 5 MHz e precisão de ±0,08% em uma única unidade compacta.

Modelo IM3570
Fabricante Hioki
Categoria Medidores LCR
Disponibilidade Por encomenda

Visão Geral

O Hioki IM3570 Analisador de Impedância é um instrumento de medição multifuncional que consolida capacidades LCR, DCR (resistência de corrente contínua) e varredura de frequência em uma única unidade. O analisador é projetado para teste contínuo de alta velocidade, permitindo linhas de inspeção que anteriormente exigiam múltiplos instrumentos operar com apenas um dispositivo.

Com frequências de medição de 4 Hz a 5 MHz, níveis de sinal de teste de 5 mV a 5 V e velocidades de teste tão rápidas quanto 0,5 milissegundos em 100 kHz, o IM3570 é ideal para caracterizar ressonância em elementos piezelétricos, capacitores de baixo ESR e fatores de qualidade do indutor.

Principais Características

  • Modos de Medição: LCR, DCR, Varredura e Contínuo
  • Faixa de Frequência: 4 Hz a 5 MHz com níveis de sinal de teste variáveis (5 mV a 5 V)
  • Velocidade de Teste: 1,5 ms em 1 kHz, 0,5 ms em 100 kHz
  • Precisão Básica (parâmetro Z): ±0,08%
  • Modo Analisador: Varreduras de frequência, varreduras de nível e medições de intervalo de tempo
  • Alternância de Condição de Alta Velocidade: Mude rapidamente parâmetros de medição entre testes
  • Análise de Características de Ressonância: Avaliação de elemento piezelétrico
  • Medição de Baixo ESR: Teste de capacitor de polímero funcional C-D
  • Teste de Indutor: Medição de indutor DCR e L-Q de bobinas e transformadores

Aplicações

  • Análise de características de ressonância de elementos piezelétricos
  • Medição de capacitor de polímero funcional de baixo ESR e C-D
  • Medição de indutor DCR e L-Q para bobinas e transformadores
  • Caracterização de componente automatizado de alta velocidade em produção
  • Pesquisa e desenvolvimento de componentes eletrônicos
  • Teste de garantia de qualidade com múltiplas condições de medição
Measurement Modes LCR, DCR, Sweep, Continuous
Frequency Range 4 Hz to 5 MHz
Test Signal Level 5 mV to 5 V
Test Speed (1 kHz) 1.5 ms
Test Speed (100 kHz) 0.5 ms
Basic Accuracy (Z parameter) ±0.08%
Analyzer Functions Frequency sweep, Level sweep, Time interval measurement
Hioki IM3570 Analisador de Impedância

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